Инспекционные микроскопы серии MX3 предназначены для исследования материалов и компонентов, используемых в микроэлектронной промышленности: полупроводников, кремниевых пластин, кристаллов, устройств хранения информации, ЖК-дисплеев, MEMS (микроэлектромеханические схемы), светодиодов и пр. В зависимости от комплектации, на микроскопах серии MX можно производить наблюдения по следующим методам контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризованный свет, ДИК Номарского, флуоресценция, ИК. Эргономичность устройств управления обеспечивает комфорт работы на протяжении долгого времени.
